Fischerscope X鍍層測厚儀

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN220產品特點：

? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設計；

? 配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析

? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析

? 由下至上的測量方向，可以*簡便地實現(xiàn)樣品定位

FISCHERSCOPE XAN 220 X射線熒光分析儀

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN220應用實例

所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點是具有出色的精度和長期穩(wěn)定性。重新校準的必要性大大降低，節(jié)省了時間和精力。現(xiàn)代硅漂移探測器實現(xiàn)了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數(shù)法允許在不進行校準的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Fischerscope X-RAY Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導體探測器組件位于儀器的下部，因此測量方向從樣品下方開始，樣品由透明窗口支撐。