菲希爾代理X熒光射線測(cè)厚儀

菲希爾X射線測(cè)厚儀憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)比較XUL和XUM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測(cè)量測(cè)量方向從上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī)，使用模塊化結(jié)構(gòu)，無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)也就是說(shuō)它們可以配備簡(jiǎn)單支板，各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求.

           配備了可編程XY工作臺(tái)的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測(cè)試。菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡(jiǎn)單快速定位樣品，當(dāng)測(cè)量門開啟時(shí)，XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到加載位置，同時(shí)激光點(diǎn)指示測(cè)量點(diǎn)位置。對(duì)于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側(cè)面有開口(C形槽).由于測(cè)量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測(cè)量平面平整的物體，也可以測(cè)量形狀復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達(dá)140mm  .  Z軸可電動(dòng)調(diào)整的儀器，測(cè)量距離還可以在0- 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇，這樣就可以測(cè)量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。