Fischerscope X-ray XDL220菲希爾測厚儀

簡要描述：

Fischerscope X-ray XDL220菲希爾測厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。

更新時(shí)間：2024-04-10

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

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產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合

Fischerscope X-ray XDL220菲希爾測厚儀

菲希爾X射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

• 全自動(dòng)測量，如測量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/p>

XDL 240 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。

由于采用了 FISCHER 基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。

設(shè)計(jì)理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 XY 工作臺，當(dāng)測量門打開時(shí)，工作臺會自動(dòng)移到放置樣品的位置；馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸系統(tǒng)，可編程運(yùn)行。