菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL210測厚儀

簡要描述：

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL210測厚儀，XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時(shí)，就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得zui大的信號(hào)強(qiáng)度。

更新時(shí)間：2024-05-10

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

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產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥,綜合

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL210測厚儀

無錫駿展儀器供應(yīng)德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL210特點(diǎn)

堅(jiān)固耐用的鍍層厚度測量設(shè)備，甚至可在較大的距離測量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作
固定光圈和固定濾光鏡
用于1mm起大小的測量點(diǎn)
底部C型開槽的大容量測量艙
可編程的臺(tái)式設(shè)備，用于自動(dòng)測量
標(biāo)準(zhǔn)X射線管，比例計(jì)數(shù)器

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL210測厚儀

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL210典型應(yīng)用領(lǐng)域

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件
防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻
電鍍工業(yè)中電鍍液的分析
黃金、珠寶和鐘表工業(yè)

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