菲希爾測厚儀XDL240

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL240無錫駿展儀器確定細小結(jié)構(gòu)和大型工件上的單一或復(fù)合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線上在線測量，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY儀器滿足實驗室和生產(chǎn)要求。

儀器智能控制軟件稱為 WinFTM. 。它不僅使操作簡單化，而且為類似軟件在多功能性及高**性方面設(shè)立了標準。

菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀
XUL系列型號的X射線熒光光譜儀，設(shè)計緊湊，用于測量鍍層厚度和分析材料。X射線源和探測器位于測量室的下方，樣品可以直接放置在測量臺上輕松定位。
盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但是XUL型儀器配置了大體積的測量腔和手動控制的XY工作臺，是測量電鍍件（如:螺絲，螺釘或螺帽，或裝飾鍍層）的理想選擇。另外，電鍍液的金屬含量也可以快速而方便地分析。
菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀是專為測量細小工件而設(shè)計的。它配備了微距焦X射線管、可自動切換的準直器和多種基本濾波器，特別適合于測量微小樣品，如：插針、接插件和線材以及對印制電路板的手動測量。